वेगवेगळ्या परिस्थितींमध्ये एलएनजी स्टोरेज टाक्यांचा वापर

मायक्रोवेव्ह नॉनडेस्ट्रक्टिव्ह टेस्टिंग तंत्रज्ञान 1960 च्या दशकात सुरू झाले. मायक्रोवेव्ह नॉन्डेस्ट्रक्टिव्ह टेस्टिंग तंत्रज्ञान म्हणजे जीएचझेडएमएचझेड 3300 ~ 3030० मधील विशिष्ट वारंवारतेची इलेक्ट्रोमॅग्नेटिक लाटा विकृत करणे ऑब्जेक्टची चाचणी केली जाईल. नैसर्गिक गॅस टाक्या प्रतिबिंबित लाटा आणि प्रसारित लाटांच्या मोठेपणा आणि टप्प्यातील बदलांचे विश्लेषण करतात, वेव्ह मोडमधील बदल आणि क्रॅक, क्रॅक, छिद्र, स्तरित मीडियाचे डिबॉन्डिंग, समावेशाची स्थिती आणि असमानता यासारख्या दोष समजून घेण्यासाठी विखुरलेल्या लाटांचे विश्लेषण. मायक्रोवेव्ह नॉन्डेस्ट्रक्टिव्ह टेस्टिंग तंत्रज्ञान शोधण्याच्या तत्त्वानुसार तीन श्रेणींमध्ये विभागले जाऊ शकते: प्रतिबिंब वेव्ह पद्धत, ट्रान्समिशन वेव्ह पद्धत आणि विखुरलेली वेव्ह पद्धत.
मायक्रोवेव्हच्या स्वत: च्या वैशिष्ट्यांमुळे, जसे की त्याची लहान तरंगलांबी, उच्च वारंवारता आणि डायलेक्ट्रिक सामग्रीमध्ये प्रवेश करण्याची मजबूत क्षमता, मायक्रोवेव्ह नॉनडस्ट्रक्टिव्ह टेस्टिंग एलएनजी टाक्यांचे नॉनडस्ट्रक्टिव्ह स्कॅनिंग करू शकते आणि दोष क्षेत्राचे प्रमाण मोजण्यासाठी डेटा प्रदान करू शकते; विशेषतः, विशेष विश्लेषण आणि प्रक्रियेशिवाय, दोष क्षेत्राची रिअल-टाइम त्रिमितीय प्रतिमा मिळू शकते. त्याच्या फायद्यांमध्ये साधे इन्स्ट्रुमेंटेशन, साधे ऑपरेशन, वाहून नेण्यास सुलभ, कमी किंमत आणि मायक्रोवेव्ह देखील जोडणी एजंट्सची आवश्यकता नसते, जे सामग्रीवरील जोड्या एजंट्सचे दूषित होण्यापासून टाळते. त्याची मर्यादा अशी आहे की मायक्रोवेव्ह चांगल्या विद्युत चालकता असलेल्या धातू आणि संमिश्र सामग्रीमध्ये प्रवेश करू शकत नाहीत, म्हणून त्यांचा वापर केवळ स्टोरेज टाक्यांच्या धातूच्या पृष्ठभागावर क्रॅक दोष आणि उग्रपणा शोधण्यासाठी केला जाऊ शकतो, परंतु अशा संमिश्र रचनांचे अंतर्गत दोष शोधू शकत नाहीत.